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HARRICK 光譜儀附件原位漫反射

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  • 產(chǎn)品型號：CHC-CHA-4
  • 廠商性質(zhì)：代理商
  • 更新時間：2024-08-20
  • 訪  問  量：181
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品牌Harrick應(yīng)用領(lǐng)域電氣

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漫反射光譜法是檢測粗糙材料表面變化的一種非常靈敏的方法。它對具有高比表面積的粉末特別有效。這使得漫反射對于多相催化、氣固相互作用、光化學(xué)反應(yīng)和氧化機制的研究非常寶貴。Harrick低溫反應(yīng)室非常適合在仔細變化的溫度和壓力下進行此類研究。這些低溫反應(yīng)室允許在廣泛的控制溫度和壓力下進行漫反射測量，并與用于FT-IR和UV-Vis漫反射光譜的漫反射配件一起使用。 設(shè)計用于高真空（133μPa或10-6托）至133 kPa（1 ktorr）和-150°C至600°C（真空條件下）的研究。

HARRICK 光譜儀附件原位漫反射

提供三個入口/出口，用于排空反應(yīng)池和引入氣體。
由耐化學(xué)腐蝕的316不銹鋼制成。

HARRICK 低溫紅外附件包括
反應(yīng)室
低壓加熱筒。
K型熱電偶。
樣品包裝工具和溢出托盤。
帶有兩個KBr窗口和一個玻璃觀察窗口的圓頂（FTIR配置）
帶有兩個SiO2窗口和一個玻璃觀察窗口的圓頂（UV-Vis-NIR配置）

HARRICK 光譜儀附件原位漫反射 搭配附件：

（1）漫反射裝置 DRP-XXX

HARRICK 光譜儀附件原位漫反射

（2）溫控儀ATK-024-6

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